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URL:https://murmitoyen.com/events/vanille/udem/detail/96784
LOCATION:Université de Montréal - Pavillon J.-Armand-Bombardier\, 5155\, 
 chemin de la rampe \, Montréal\, QC\, Canada\, H3T 2B2
SUMMARY:Caractérisation de la microstructure des matériaux à haute réso
 lution spatiale avec un microscope électronique en balayage à effet de c
 hamps
DESCRIPTION:Raynald Gauvin\, Department of Materials Engineering\, Universi
 té McGillCe séminaire présentera des résultats de caractérisation des
  matériaux à haute résolution spatiale avec un microscope électronique
  en balayage à effet de champs de pointe\, le SU-8000 de la compagnie Hit
 achi. Ce microscope à cathode froide possède une résolution de 0.5 nm 
 à 30 keV et de 2 nm à 200 eV avec un courant de sonde maximal de 40 nA. 
 Il possède 2 détecteurs d'électrons secondaires\, deux détecteurs d’
 électrons rétrodiffusés\, un détecteur en champs clair STEM\, un déte
 cteur rayons-x SDD de 80 mm2 qui à un taux de comptage de 400 000 comptes
 /s et un détecteur EBSD. L’importance des méthodes de Monte Carlo pour
  simuler les trajectoires des électrons dans le but de quantifier des ana
 lyses rayons-x sera discutée ainsi que les performances de ce microscope 
 en comparaison avec la microscopie électronique en transmission. Des exem
 ples d’applications seront présentés pour la caractérisation d’alli
 ages d’aluminium\, de magnésium\, de zirconium et des nanomatériaux do
 nt des nanotubes de carbone avec des nano particules de Pt et de Pd/Sn.Sé
 minaires du RQMP – Versant Nord
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